SICK西克 2D 機器視覺 - 深度學習

產品型號：Intelligent Inspection

攤位號碼：S524

產品特色

#運用Deep Learning解決機器視覺的複雜應用
基於Deep Learning的工具套件Intelligent Inspection能夠在進行異常探測與物體分類時取得基於規則的機器視覺無法達到的結果。將基於範例的方案與裝置訓練及便於使用的介面相結合，為簡化解決方案開發鋪平了道路。異常檢測及分類工具確保檢測的物體滿足品質及分揀要求。因此，可提高產量、減少廢品並提升客戶滿意度。包含各種基於規則的工具套件Quality Inspection傳統圖像處理工具。

產品概述
- 利用Deep Learning進行檢查
- 異常探測與分類工具
- 在支援的SICK視覺感測器上運行
- 在裝置上或dStudio中進行標記、訓練、評估
- 網頁式使用者介面
- 基於規則的軟體工具包含在供貨範圍内
- 針對SICK Nova工具的插件支援

客戶效益
- Deep Learning可解決基於規則的工具無法解決的機器視覺領域的複雜應用
- 減少廢品與投訴，提高可靠性與生產效率
- Deep Learning是在裝置本身上運轉，因此總運作成本低
- 利用SICK dStudio進行訓練，從而在裝置上簡單快速地設定應用并使量測準確度與運行速度最佳化
- 便於使用，可迅速掌握
- 將基於規則的傳統工具的優點與Deep Learning結合在一起
- 能夠輕鬆擴充和調整功能

詳細產品資訊:https://www.sick.com/tw/zf/sick-appspace/sick-appspace-sensorapps/intelligent-inspection/c/g551949

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